3 зоны Тепловой испытательной камеры для испытаний полупроводников Специфика:
GB/T 2431.1-2001 Испытание А: Метод испытания при низкой температуре
GB/T 2431.2-2001 Испытание B: Метод испытания при высокой температуре
GJB 150.3-1986: Высокая температура
GJB 150.4-1986: Низкая температура
IEC68-2-1 Испытание А: холодное
IEC68-2-2 Испытание А: сухое
GB 11158 Срок испытания при высоких и низких температурах
GB/T 2423.2 << Основное испытание электротехнических изделий на окружающей среде: B: метод высокой температуры>>
Система охлаждения и контроль температуры:
1Способ работы: выбор размера для модели машины; каскад механического охлаждения; воздушное охлаждение.
2Рефрижераторные компрессоры: импортируемые известные бренды низкоэффективные герметические или полугерметические компрессоры.